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SLDJS-1060大容量高電壓介損測試儀采用數(shù)字波形分析和電橋自校準等技術(shù)，配合高精度三端標準電容器，實現(xiàn)高精度介損測量。量程輸入電阻低于2Ω，消除測量電纜附加電容的影響。采用高壓電容器與介損電橋組合在一起的方案，簡化接線調(diào)試的過程。并保證電橋試驗的安全性。使用串聯(lián)諧振提供的高壓電源，無需固定頻率。內(nèi)置串聯(lián)和并聯(lián)兩種介損測量模型，方便儀器檢定。具有標準電流輸入通道，采用外部標準電容器做介損試驗。
2024-09-13
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